Published February 23, 2018 | Version v1

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MS-3-P-5702 Nanoanalytical investigations at the interface of 4H-SiC/SiO2 MOSFETs [Póster]

Creators: Tan, H.; Beltrán, Ana M.; March, K.; Mortet, Vincent; Bedel-Pereira, Eléna; Cristiano, Fuccio; Strenger, C.; Bauer, A.J.; Schamm-Chardon, Sylvie

Others:: Universidad de Sevilla. Departamento de Ingeniería y Ciencia de los Materiales y del Transporte; Universidad de Sevilla. TEP123: Metalurgia e Ingeniería de los Materiales

Additional details

Created:: March 25, 2023
Modified:: November 30, 2023