Published June 3, 2024
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Conference paper
Short-term reliability assessment of sub-micron thick AlN/GaN-on-Silicon HEMTs grown by MBE for RF applications
Contributors
Others:
- WIde baNd gap materials and Devices - IEMN (WIND - IEMN) ; Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN) ; Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA) ; Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA) ; Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)
- EasyGaN
- Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications (CRHEA) ; Université Nice Sophia Antipolis (1965 - 2019) (UNS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Côte d'Azur (UniCA)
- ANR-11-LABX-0014,GANEX,Réseau national sur GaN(2011)
Description
International audience
Additional details
Identifiers
- URL
- https://hal.science/hal-04761106
- URN
- urn:oai:HAL:hal-04761106v1
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- UNICA