Published April 16, 2018 | Version v1

Conference paper Metadata-only

A new method for test chip and single 40nm NOR Flash cell electrical parameters correlation using a CAST structure

Creators: Kempf, T.; Della Marca, V.; Canet, P.; Regnier, A.; Masson, P.; Portal, Jean-Michel

Others:: STMicroelectronics [Rousset] (ST-ROUSSET); Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS); Laboratoire de Polytech Nice-Sophia (Polytech'Lab) ; Université Nice Sophia Antipolis (1965 - 2019) (UNS) ; COMUE Université Côte d'Azur (2015-2019) (COMUE UCA)-COMUE Université Côte d'Azur (2015-2019) (COMUE UCA)-Université Côte d'Azur (UCA)

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Created:: December 4, 2022
Modified:: November 23, 2023