Detección automática de faltas empleando lógica borrosa

Presentamos a continuación una herramienta para la detección y clasificación de faltas en circuitos analógicos a partir de un reducido conjunto de medidas. Se emplea una estructura formada por neuronas borrosas, que permite el reconocimiento de regiones de clasificación de forma arbitraria. Permitiendo la realización de tests tanto funcionales como paramétricos.