Published July 2016
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Journal article
Assessing the Composition of Wide Bandgap Compound Semiconductors by Atom Probe Tomography: A Metrological Problem
- Others:
- Groupe de physique des matériaux (GPM) ; Université de Rouen Normandie (UNIROUEN) ; Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie) ; Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
- Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [Orsay] (C2N) ; Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
- Institute of Condensed Matter Physics [Lausanne] ; Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
- Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
- Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [Marcoussis] (C2N) ; Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
- Laboratoire de photonique et de nanostructures (LPN) ; Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
- Institut d'électronique fondamentale (IEF) ; Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
- Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications (CRHEA) ; Université Nice Sophia Antipolis (1965 - 2019) (UNS) ; COMUE Université Côte d'Azur (2015-2019) (COMUE UCA)-COMUE Université Côte d'Azur (2015-2019) (COMUE UCA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Côte d'Azur (UCA)
Description
International audience
Additional details
- URL
- https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01954232
- URN
- urn:oai:HAL:hal-01954232v1
- Origin repository
- UNICA